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  • LCR 메타에 대한 정보


  • ◈ 테스트 리드(Test Lead)에 대하여...
    ◈ LCR meter의 용어에 대하여...

    ◈ 테스트 리드(Test Lead)에 대하여...

    LCR 메타에서는 부품을 측정하기 위해서 여러가지의 테스트 프루브(Test Probe)및 픽스춰(Fixture)를 사용하지만 보통 두가지의 테스트 프루브가 보편적으로 많이 사용된다.
    (그림1)4-선식 켈빈 프루브(4-wire Kelvin Probe;Clips) 기본적으로 4-선식 케빈 프루브(4-wire Kelvin Probe;Clips)로 이것은 집게 형태의 모양을 하고 있으며 부품 양단자를 집게로 물려서 측정을 한다.
    그림1)은 다양한 4-선식 케빈 프루브(4-wire Kelvin Probe;Clips)의 모양 중에 한 예로 보여준 그림이다.
    (그림2)4-선식 핀 프루브(4-wire twizer;SMD;Pincher Probe) 다음은 4-선식 핀 프루브(4-wire twizer;SMD;Pincher Probe)로 이것은 핀셋처럼 생긴 모양과 테스트의 끝이 뾰쪽한 모양으로 칩부품 또는 SMD 타입 부품등과 같은 작은 저항 다시 말해서, 켈빈프루브로 부품을 물릴 수 없는 상황에서 부품을 측정할 때 사용하며, 보통 선택사양(Option)으로 장비와 함께 지원한다.
    그림2)는 다양한 4-선식 핀 프루브(4-wire twizer;SMD;Pincher Probe)의 모양 중에 한 예로 보여준 그림이다.
    기타 픽스춰(Fixture)는 부품을 삽입하여 보다 정확하고 신속하게 측정할 수 있도록 도와준다.
    다른 프루브는 장비와 함께 공급제조사의 고유의 모델로 각양각색으로 지원된다.
    또한 지그(giz)라하여 사용자가 생산라인이나 개발부서에서 필요에 의해서 만들어 사용하는 경우도 있다.

    ◈ LCR meter의 용어에 대하여...

    LCR메타는 여러가지 측정 파라메타(Parameters)들을 가지고 있다.
    전자부품에 대한 특성을 측정하는데 용이한 메타로써, 보통 아래와 같은 측정 파라메타를 가고 있다.
    * Main Parameters
    - L : 인덕턴스(inductance;H헨리)
    - C : 캐패시턴스(capacitance;F패럿)
    - Z : 임피던스(Impedance;Ω오옴)
    * Sub-Parameters
    - Q : Quality factor(quality of circuit)
    - D : 소산율,손실율(Dissipation factor;=tanδ=1/Q)
    - G : 병렬 인덕턴스(Parallel conductance;S지멘스)
    - X : 직렬 리액턴스(series reactance;;Ω오옴)
    - θ : 임피던스 위상각(Phase angle of inpedance;˚도)

    LCR 메타는 부품들의 특성을 측정하는데 있어서 중요한 테스트주파수(Test Frequency) 범위를 갖고 있는데, 보통 120Hz와 1kHz를 기본으로 한다.
    다양한 테스트 주파수 범위를 갖추고 있는 고가(高價)의 LCR메타는 10kHz, 100kHz 또는 1MHz의 가변 주파수대역을 가지고 있다.
    주파수 대역이 1MHz에서 10MHz정도까지의 메타를 주로 임피던스 아날라이저(Impedance Analyzer)라고 하고, 그 이상되는 테스트 주파수 대역 즉, 10MHz이상의 장비를 네트워크 아날라이저(Network Analyzer)라고 한다.

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